1、試驗目的低溫試驗用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下存儲和使用的適應性，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗和元器件的篩選試驗。
    2、試驗條件按照國標GB 2423.1—2008規(guī)定如下：
    （1）非散熱試驗樣品低溫試驗Ab：溫度漸變。
    （2）散熱試驗樣品低溫試驗Ad：溫度漸變。試驗的嚴酷程度由溫度和持續(xù)時間確定。溫度：-65℃；-55℃；-40℃；-25℃；-10℃；-5℃；+5℃。試驗溫度的允許偏差均為±3℃。持續(xù)時間：2h；16h；72h；96h。
    3、試驗程序
    試驗Ab：非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗，用以確定非散熱的電子電工產(chǎn)品（包括元件、設備或其他產(chǎn)品）低溫下存儲和使用的適應性。將處于室溫的試驗樣品，按正常位置放入 高低溫試驗箱內(nèi)，開動冷源，使試驗箱溫度從室溫降低到規(guī)定試驗溫度并使試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。箱內(nèi)溫度變化速率為不大于 1℃/min（不超過5min時間的平均值）。
    試驗Ad：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗，確定散熱電子電工產(chǎn)品（包括元器件、設備或其他產(chǎn)品）低溫條件下使用的適應性。
    4、有關技術和設備要求
    （1）有關技術。若試驗的目的僅僅是檢查試驗樣品在低溫時能否正常工作，則試驗的時間只限于使試驗樣品溫度達到穩(wěn)定即可；若作為與低溫耐久性或可靠性相聯(lián)系的有關試驗時，則其試驗所需的持續(xù)時間按有關標準規(guī)定。試驗時要注意區(qū)分兩類試驗樣品：無人工冷卻的試驗樣品和有人工冷卻的試驗樣品。無人工冷卻的試驗樣品分為無強迫空氣循環(huán)的試驗和有強迫空氣循環(huán)的試驗，無強迫空氣循環(huán)的試驗，是模擬自由空氣條件影響的一種試驗方法。有強迫空氣循環(huán)的試驗，有兩種方法。方法 A 適用于高低溫試驗箱足夠大，不用強迫空氣循環(huán)也可滿足試驗要求，但僅能借助空氣循環(huán)才能保持箱內(nèi)的環(huán)境溫度。方法B用于方法A不能應用的場合，例如，用作試驗的試驗箱體積太小，當無強迫空氣循環(huán)就不能符合試驗要求的場合。有人工冷卻的試驗樣品，一般可按無強迫空氣循環(huán)方法進行試驗。這三項低溫試驗對于試驗樣品的工作性能試驗，必須按有關標準規(guī)定對試驗樣品給予通電或電氣負載，并檢查確定能否達到規(guī)定的功能。按要求施加規(guī)定的試驗條件前，應對樣品進行外觀及電氣和機械性能的初始檢測，然后按有關標準的規(guī)定在試驗期間或結束時加負載和進行中間檢測，檢測時試驗樣品不應從高低溫試驗箱中取出。按照規(guī)定要求進行恢復，后對樣品進行外觀及電氣和機械性能的檢測。
    （2）試驗設備要求。高低溫試驗箱應能夠在試驗工作空間內(nèi)保持規(guī)定的溫度條件，可以采用強迫空氣循環(huán)來保持溫度均勻。為了限制輻射影響，試驗箱內(nèi)壁各部分溫度與規(guī)定試驗溫度之差不應超過 8%（按開爾文溫度計），且試驗樣品不應受到不符合上述要求的任何加熱與冷卻元器件的直接輻射。